根據(jù)儀器化壓入測試 (IIT) 的要求，微米壓痕儀非常適合于對硬度和彈性模量等機械性能的測量。它適用于塊狀樣品和薄膜，從軟材料到硬材料（金屬、陶瓷、聚合物），可以進行大位移測量（最大 1 mm）。可以根據(jù)需求添加劃痕測試模式。
儀器化壓入測試 (IIT) 用于測量硬度和彈性模量
•位移-儀器化壓痕：持續(xù)測量與施加的載荷和相關的位移，獲得材料硬度和彈性模量
一臺儀器即可進行從納米到宏觀尺度的壓痕
•從小位移（幾納米）到大位移（最大 1 mm）的壓痕
•大載荷范圍（從10 mN 到 30 N）以滿足樣品特性的要求
•大載荷范圍 對測量粗糙表面尤為有用
高精度的位移和載荷可進行精確的微米壓痕測量
•兩個獨立的傳感器：一個用于載荷，一個用于位移，來進行準確的計量測量
•高框架剛度：2 x 108 N/m，更高的位移準確度
材料性能的位移曲線
•連續(xù)多周期 (CMC) 的位移曲線：硬度和彈性模量與壓入位移的關系
•壓入載荷和位移控制模式
•可視點陣模式通過顯微鏡觀察對樣品進行多點定位測試通過
•多個測試模式：可使用用戶自定義程序根據(jù)需要設置測試參數(shù)
典型應用
•冶金：塊狀金屬、高載荷合金（粗糙表面）和/或顯微硬度
•聚合物的表征（塊狀材料和粗糙表面）
•儀器化壓痕熱噴涂涂層的表征
•涂層表面的物理特性分析
•膠凝的機械性能
技術規(guī)格
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載荷 |
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最大載荷 |
30 N |
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分辨率 |
6 μN |
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本底噪音 |
<100 [rms] [μN]* |
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位移 |
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最大位移 |
1000 μm |
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分辨率 |
0.03 nm |
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本底噪音 |
<1.5 [rms] [nm]* |
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載荷框架剛度 |
> 107 N/m |
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國際標準 |
ISO 14577, ASTM E2546, ISO 6507,
ASTM E384 |
*理想實驗室條件下規(guī)定的本底噪音值，并使用減震臺。
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