UNHT³ 高精度超納米壓痕測試儀采用真實力傳感器和位移傳感器，可用于測量材料在納米尺度下的機械性能。UNHT³ 采用獨特的主動表面參比專利技術(shù)，消除了熱漂移和框架剛度的影響。因此，非常適用于對所有類型的材料（包括聚合物、納米涂層和軟組織）進行原子到納米尺度的長時間測量。對于極低或極溫度下的測量，真空室版本 (UNHT³ HTV) 適用于 -150℃ 至 800℃ 的溫度以及低至 10-7 mbar 的真空度。
型號: 超納米壓痕測試儀：UNHT³ Standard
•環(huán)境條件下的測量
•從室溫至 200℃ 的可變溫度測試
型號: 超納米壓痕測試儀：UNHT³ HTV
•真空環(huán)境可更好地控制加熱，并保護壓痕針尖和樣品免受氧化
•全自動程序，可將熱漂移降至最低
•從 -150℃ 至 800℃ 的可變溫度測試
•真空度低至 10-7 mbar
最精確的納米壓痕測試儀
UNHT³ 可測量他人估計的結(jié)果：兩個獨立的位移和載荷傳感器可真正可靠地控制力和壓入深度。另外，UNHT³ 采用獨特的主動表面參比專利設(shè)計：參考參比針尖記錄樣品的表面位移位置，同時針尖壓痕完成測量，以此扣除熱漂移和框架剛度影響。這種獨特的設(shè)計支持大范圍的壓入位移（從幾 nm 到 100 μm）和壓入載荷（從幾 μN 到 100 mN）。
市場上穩(wěn)定性最高的納米壓痕測試儀
UNHT³ 采用獨特的主動表面參比專利技術(shù)和無熱膨脹的 Zerodur 材質(zhì)，是市面上唯一一款無需任何位移校正且熱漂移低至可忽略不計 (10 fm/sec) 的納米壓痕測試儀。憑借獨特的穩(wěn)定性，UNHT³ 是唯一可用來長期測量蠕變等測試的納米壓痕測試儀。
高效率和測量速度（每小時測量 >600 次）
借助該儀器獨特的熱穩(wěn)定性，樣品在安裝后即刻便能進行測量，不必等待數(shù)小時以便其達到熱穩(wěn)定狀態(tài)。因此，每天可單獨測量許多樣品。使用“快速點陣”模式，每小時可通過真實的壓痕曲線和 600 多個壓痕。另外，用戶配置、測量模式、多樣品測量和可定制報告也促使其成為市面上效率最高的儀器。
通過“Sinus 動態(tài)測量模式”進行其他動態(tài)機械分析 (DMA)
使用集成的“Sinus 動態(tài)測量模式”，可以對機械特性進行位移曲線 DMA 分析（HIT、EIT 對比位移），并可測量薄膜到塊狀材料等樣品的粘彈特性（E'、E''：儲能和損耗模量、tan δ）。Sinus 動態(tài)測量模式還提供其他功能，例如壓痕儀快速校正以及應(yīng)力/應(yīng)變分析。
在高真空和高達 800℃ 的高溫下進行測量
UNHT³ 的 HHT 版本是唯一一款配備全自動程序的超納米壓痕儀，可將熱漂移降至最低，在整個溫度范圍內(nèi)實現(xiàn)熱漂移 <3 nm/min。這是通過獨特的專利加熱控制系統(tǒng)來實現(xiàn)的，該加熱控制系統(tǒng)以 0.1℃ 的精度同時控制樣品和壓痕針尖溫度。壓痕軟件控制加熱和環(huán)境條件，并與系統(tǒng)實時交互，以最大限度地減少熱漂移，并啟動所有所需的測量。您可以計劃一組具有不同溫度步長的任何類型的壓痕（也可使用標準 UNHT³），儀器會根據(jù)預(yù)設(shè)矩陣自動進行測量。
技術(shù)規(guī)格
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最大載荷 [mN] |
50 / 100(1) |
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載荷分辨率 [nN] |
3 |
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載荷背底噪聲 [rms] [μN] |
≤0.05 |
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加載速度 [mN/min] |
最多 1000 種 |
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深度量程 [μm] |
50 / 100(1) |
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深度分辨率 [nm] |
0.003 |
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深度背底噪聲 [rms] [nm] |
≤0.03 |
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數(shù)據(jù)采集頻率 [kHz] |
192 |
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選件 |
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加熱臺的溫度可高達 200℃ |
? |
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最低冷卻至 -120℃ (2) |
? |
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液體測試 |
? |
(1) 可選(2) 帶環(huán)境腔體
專利：UNHT³ 的主動表面參比技術(shù)：US 7,685,868 B2
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